存档的新闻稿 Raytek
  支持和下载   新闻和活动   红外知识   联系我们   更改语言
 
高级搜索  
  主页   工业应用   产品和附件   购买渠道
Home > 新闻和活动 > 存档的新闻稿

存档的新闻稿

八月 24, 2015
Raytek,Ircon,Datapaq品牌联合——“福禄克过程仪器”诞生

五月 20, 2015
Raytek 隆重推出Raynger 3i Plus系列红外测温仪

二月 16, 2015
2015年雷泰新春送好礼!

三月 17, 2014
持续监测回转窑的Raytek®CS210过程成像系统现在增加了3D视图和耐火材料管理功能

十一月 13, 2013
雷泰红外测温仪免费演示活动

十月 01, 2013
雷泰中国十八载经典巡礼,“众礼寻你”红外老客户搜寻活动正式启动

三月 14, 2013
“分布式红外温度监控系统”网络研讨会顺利举行

二月 27, 2013
Raytek® MI3荣获PLANT ENGINEERING China 2012年度最佳产品奖

十二月 21, 2012
福禄克雷泰Raytek®推出EMS 设备监控系统

十二月 20, 2012
福禄克雷泰红外测温全国巡回技术交流会在苏州、无锡成功举办

十月 10, 2012
福禄克雷泰红外测温全国巡回技术交流会后续报道

九月 03, 2012
福禄克雷泰红外测温全国巡回技术交流会在徐州成功举办

七月 05, 2012
2012雷泰红外测温全国巡回技术交流会精彩开启

六月 22, 2012
雷泰参加第十三届广州国际金属暨冶金工业展览会

六月 22, 2012
雷泰参加第八届上海国际金属工业展览会

三月 29, 2011
MI3荣获2011年度Control Engineering(控制工程)工程师选择奖

八月 20, 2010
Raytek® 推出了ThermoView™ Pi20 & DataTemp® Pi过程成像解决方案

四月 21, 2009
Raytek推出用于工业应用和OEM的新型红外测温仪

十一月 21, 2008
Raytek & Ircon推出适用于太阳能设备行业的红外温度测量解决方案

八月 04, 2008
Raytek MP150行扫描器适用于过程非接触式温度测量

三月 15, 2008
雷泰维修站喜迁新址

一月 09, 2008
MP150高速红外行扫描器,用于过程非接触式温度测量

四月 18, 2007
Raytek推出Marathon MM 3M红外测温仪

十月 23, 2006
新型GS110过程成像系统具有发射率修正功能,可用于低放射率玻璃应用

九月 22, 2006
Raytek扩展了MI系列传感器能力,优化了光学分辨率

九月 15, 2005
Raytek推出Marathon MM系列红外测温仪

六月 27, 2005
现在OPC技术被应用于非接触式红外温度测量

七月 01, 2003
ThermoView Ti30热像仪—更简单、更迅速、更便宜

四月 18, 2003
用于造纸过程的创新同步热成像系统

 
 
 
雷泰是福禄克测试仪器(上海)有限公司的全资子公司  |  工作机会  |  关于雷泰 
站点地图  |  免责声明  |  隐私政策

全国服务电话:4008103435      技术服务电话:010-64384691
雷泰.中国: 北京建国门外大街22号,赛特大厦1901室

© Raytek Corporation 1999 - 2016